Li H., Cheng C.H., Zhao Y., Zhang X., Peng J., Xia Y., Pan X.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, fabrication, chemical solution deposition, buffer layers, substrate Ni-W, X-ray diffraction, microstructure, resistive transition, quality control
J Materials Science - Materials Electronics, 2020, v.31, N 7, p.5617-5621
Полный текст на Sci-Hub
Дополнительная информация
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ruТехническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.